光譜儀

AQ6317B光譜儀

橫河AQ6317BAQ6317DAQ6317CAQ6370AQ6370B

AQ6317B是一款高級光譜分析儀，適用于各種應用，包括光源評估，光學設備中損耗波長特性的測量以及WDM（波分復用）系統的波形分析。

特別是在C波段和L波段，該裝置可實現較高的波長精度和波長線性度，并可評估用于WDM的光學設備。分析功能使操作和擴展性變得簡單。

規格：

波長范圍：600至1750nm

動態范圍：60dB（1523nm，峰值0.2nm，分辨率：0.01nm）

波長精度：0.5nm（600至1750nm）

波長線性度：0.01nm（1520至1580nm）

波長重復性：0.005nm（1分鐘）

偏振相關性：0.05dB（1550/1600nm），典型值0.05dB（1310納米）

附加信息

波長分辨率：分辨率設置：0.01、0.02、0.05、0.1、0.2、0.5、1.0、2.0nm

分辨率精度：5％

電平精度：0.3dB

電平線性度：0.05dB

掃描時間：約500毫秒

AQ6317B是一款高精度，性能*的光譜分析儀，廣泛應用于無源/有源器件生產、WDM系統等通信系統測試中。

主要參數如下：

適用范圍:WDM,LD,LED,&FBG

波長范圍:600to1750nm

波長精度:±0.05nm

波長線性度:±0.01nm

波長重復性:±0.005

分辨精度:±5%

動態范圍:60dB

掃描速度:appoximay500msec

PDL:±0.05dB

精度:±0.3dB

波長分辨率:0.015nm

zui大輸入功率:+20dBm(100mW)

9.4-inchcolorLCDdisplay

內存:32traces,20programs

GP-IB通信接口

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